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您的位置: 首頁 > 應用軟件 > 行業軟件 > Sigmadyne SigFit(光機熱耦合分析工具) V2020 R1e破解版

  Sigmadyne SigFit是一款專門從事光學機械分析和光學機械有限元分析的軟件。它還具有許多功能,包括自適應控制仿真、用蒙特卡羅方法進行變化分析、計算動態響應波前誤差(與光學分析軟件連接)和視線誤差。目前,SigFit 已廣泛應用于空間相機、紅外光學鏡頭、激光引信、激光雷達、光學導引頭、光學傳感器、艦載光電武器、激光通信、顯微光刻等的研發階段。

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【功能特點】

  1、基本功能

  將熱分析與機械分析的溫度、應力和變形量等通過澤尼克多項式擬合或點陣圖插值,為光學分析軟件提供光學表面的變形信息和溫度和應力引起的折射率變化信息,從而實現熱、機械及光學的耦合分析。

  多項式擬合:將多種輸入格式的數據擬合為多項式。多項式類型包括標準和邊緣Zernike 多項式、非球面多項式、X-Y多項式等九種格式。擬合結果包括多項式系數、光學工具輸入宏文件、擬合RMS 和PV 值等

  表面變形插值:將光學測試的試驗數據或有限元仿真的網格數據插值為一個數組或者另一種網格結果,以用于仿真預測結果與光學測試結果的對比或描述Zernike 多項式無法準確描述的光學表面變形

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  2、高級應用

  主動控制:分析光學面形RMS值隨激勵源數目的變化關系,分析如何布置激勵源使光學表面RMS 更小,為施加激勵源的位置和大小提供參考

  動態響應:基于固有頻率結果、激勵載荷和阻尼等,計算面形由于諧波振動、隨機振動和瞬態載荷引起的剛體位移、曲率變化和RMS 誤差、傳遞函數變化以及各階模態對RMS 的影響等

  設計優化(僅MSC Nastran):將光學表面的Zernike系數、面型RMS 值、PV 值等參數轉變為Nastran 格式的方程,利用Nastran 的優化求解器對光學表面的面型、支撐結構、材料參數等進行優化。

  光程差分析:根據有限元分析的鏡面應力和溫度結果、流體軟件計算的鏡面附近流體的密度以及這些參數對折射率的影響關系,計算為平均光程差、雙折射等光學特性

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【破解說明】

  1、下載并安裝原程序,將ProgramData文件夾復制到C盤,并點擊替換目標中的文件

  2、將2020r1e文件夾復制到安裝目錄中,點擊替換目標中的文件

  3、運行“SIGMADYN_Local_Licensing.reg”并確認將信息添加到Windows注冊表中

軟件特別說明

標簽: SigFit 機械設計

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