網(wǎng)友評(píng)分:
5分
萬(wàn)能固態(tài)硬盤量產(chǎn)工具(SSD MP Tool) V2.2.32 最新免費(fèi)版
360驅(qū)動(dòng)大師 V2.0.0.1370 綠色免費(fèi)版
開心電視助手6.0版本 V6.0 官方最新版
驅(qū)動(dòng)人生會(huì)員破解版 V8.11.60.192 吾愛破解版
魯大師舊版5.0 V5.21.1300 老版本經(jīng)典版
愛普生打印機(jī)廢墨墊清零軟件 V1.0.0 通用版
萬(wàn)能驅(qū)動(dòng)8下載免費(fèi)中文版 V8v24v6 最新免費(fèi)版
筆記本萬(wàn)能驅(qū)動(dòng)完整版 V8v24v6 最新免費(fèi)版
memtest86 pro版是一款非常專業(yè)的電腦內(nèi)存檢測(cè)軟件。它具有可從USB啟動(dòng)、支持UEFI BIOS、支持壓電揚(yáng)聲器音頻、支持帶鼠標(biāo)的圖形界面等功能,提供全內(nèi)存容量檢測(cè)服務(wù),免費(fèi)下載,歡迎體驗(yàn)。
解壓到U盤根目錄。進(jìn)BIOS選擇U盤的UEFI 啟動(dòng)就可以自動(dòng)運(yùn)行。
MemTest86 執(zhí)行一系列編號(hào)的測(cè)試部分來(lái)檢查錯(cuò)誤。這些測(cè)試部分由測(cè)試算法、數(shù)據(jù)模式和緩存設(shè)置的組合組成。安排這些測(cè)試的執(zhí)行順序,以便盡快檢測(cè)到錯(cuò)誤。每個(gè)測(cè)試部分的描述如下:
測(cè)試 0 [地址測(cè)試,步行測(cè)試,1 CPU]
使用遍歷地址模式測(cè)試所有內(nèi)存庫(kù)中的所有地址位。該測(cè)試由單個(gè) CPU 內(nèi)核執(zhí)行。
測(cè)試1【地址測(cè)試,自有地址,1個(gè)CPU】
每個(gè)地址都寫入自己的地址,然后檢查其一致性。理論上,以前的測(cè)試應(yīng)該已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了任何內(nèi)存尋址問題。此測(cè)試應(yīng)捕獲以前未檢測(cè)到的任何尋址錯(cuò)誤。該測(cè)試由單個(gè) CPU 內(nèi)核執(zhí)行。
測(cè)試2【地址測(cè)試,自己的地址】
與測(cè)試 1 相同,但測(cè)試使用多個(gè) CPU(如果適用)完成。
測(cè)試 3 [移動(dòng)反轉(zhuǎn)、一和零、平行]
此測(cè)試使用具有全 1 和全零模式的移動(dòng)反轉(zhuǎn)算法。即使緩存在某種程度上干擾了測(cè)試算法,它也會(huì)啟用。啟用緩存后,此測(cè)試不會(huì)花費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間,并且應(yīng)該可以快速找到所有“硬”錯(cuò)誤和一些更細(xì)微的錯(cuò)誤。
測(cè)試 4 [移動(dòng)反轉(zhuǎn),8 位模式]
這與測(cè)試 3 相同,但使用 8 位寬的“行走”1 和 0 模式。該測(cè)試將更好地檢測(cè)“寬”內(nèi)存芯片中的細(xì)微錯(cuò)誤。
測(cè)試 5 [移動(dòng)反轉(zhuǎn),隨機(jī)模式]
測(cè)試 5 使用與測(cè)試 4 相同的算法,但數(shù)據(jù)模式是隨機(jī)數(shù)并且是補(bǔ)碼。此測(cè)試在發(fā)現(xiàn)難以檢測(cè)的數(shù)據(jù)敏感錯(cuò)誤方面特別有效。每次傳遞的隨機(jī)數(shù)序列都不同,因此多次傳遞可以提高效率。
測(cè)試6【格擋招式,64招式】
該測(cè)試通過(guò)使用塊移動(dòng) (movsl) 指令來(lái)強(qiáng)調(diào)內(nèi)存,并且基于 Robert Redelmeier 的 burnBX 測(cè)試。內(nèi)存使用每 8 個(gè)字節(jié)反轉(zhuǎn)一次的移位模式進(jìn)行初始化。然后使用 movsl 指令移動(dòng) 4mb 的內(nèi)存塊。移動(dòng)完成后,檢查數(shù)據(jù)模式。因?yàn)橹挥性趦?nèi)存移動(dòng)完成后才會(huì)檢查數(shù)據(jù),所以不可能知道錯(cuò)誤發(fā)生在哪里。報(bào)告的地址僅適用于發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤模式的位置。由于移動(dòng)被限制在 8mb 的內(nèi)存段中,因此失敗的地址與報(bào)告的地址之間的距離總是小于 8mb。此測(cè)試的錯(cuò)誤不用于計(jì)算 BadRAM 模式。
測(cè)試 7 [移動(dòng)反轉(zhuǎn),32 位模式]
這是移動(dòng)反轉(zhuǎn)算法的一種變體,它為每個(gè)連續(xù)的地址將數(shù)據(jù)模式左移一位。每次通過(guò)的起始位位置左移。要使用所有可能的數(shù)據(jù)模式,需要 32 遍。該測(cè)試在檢測(cè)數(shù)據(jù)敏感錯(cuò)誤方面非常有效,但執(zhí)行時(shí)間較長(zhǎng)。
測(cè)試8【隨機(jī)數(shù)序列】
該測(cè)試將一系列隨機(jī)數(shù)寫入內(nèi)存。通過(guò)重置隨機(jī)數(shù)的種子,可以創(chuàng)建相同的數(shù)字序列以供參考。檢查初始模式,然后在下一次通過(guò)時(shí)再次補(bǔ)充和檢查。然而,與移動(dòng)倒置不同,測(cè)試寫入和檢查只能在正向進(jìn)行。
測(cè)試 9 [模 20,隨機(jī)模式]
使用 Modulo-X 算法應(yīng)該可以發(fā)現(xiàn)由于緩存和緩沖對(duì)算法的干擾而無(wú)法通過(guò)移動(dòng)反轉(zhuǎn)檢測(cè)到的錯(cuò)誤。
測(cè)試 10 [位褪色測(cè)試,2 種模式]
位褪色測(cè)試使用模式初始化所有內(nèi)存,然后休眠幾分鐘。然后檢查內(nèi)存以查看是否有任何內(nèi)存位發(fā)生了變化。使用全一和全零模式。
測(cè)試11【隨機(jī)數(shù)序列,64位】
此測(cè)試與測(cè)試 8 相同,但使用的是本機(jī) 64 位指令。
測(cè)試12【隨機(jī)數(shù)序列,128位】
此測(cè)試與測(cè)試 8 相同,但使用了本機(jī) SIMD(128 位)指令。
測(cè)試 13 [錘子測(cè)試]
行錘測(cè)試暴露了 RAM 模塊 2010 或更高版本的基本缺陷。當(dāng)在短時(shí)間內(nèi)重復(fù)訪問同一存儲(chǔ)庫(kù)但不同行中的地址時(shí),此缺陷會(huì)導(dǎo)致干擾錯(cuò)誤。行的重復(fù)打開/關(guān)閉導(dǎo)致相鄰行中的電荷泄漏,可能導(dǎo)致位翻轉(zhuǎn)。
該測(cè)試通過(guò)以重復(fù)方式交替讀取兩個(gè)地址來(lái)“錘擊”行,然后驗(yàn)證其他地址的內(nèi)容是否存在干擾錯(cuò)誤。有關(guān) DRAM 干擾錯(cuò)誤的更多詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱在不訪問內(nèi)存的情況下翻轉(zhuǎn)內(nèi)存中的位:Yoongu Kim 等人的 DRAM 干擾錯(cuò)誤的實(shí)驗(yàn)研究。
從 MemTest86 v6.2 開始,可能會(huì)執(zhí)行兩次行錘測(cè)試。在第一次通過(guò)時(shí),地址對(duì)以盡可能高的速率被敲擊。如果在第一次通過(guò)時(shí)檢測(cè)到錯(cuò)誤,則不會(huì)立即報(bào)告錯(cuò)誤并開始第二次通過(guò)。在此過(guò)程中,地址對(duì)以較低的速率被錘擊,內(nèi)存供應(yīng)商認(rèn)為這是最壞的情況(每 64 毫秒 20 萬(wàn)次訪問)。如果在此過(guò)程中也檢測(cè)到錯(cuò)誤,則將錯(cuò)誤正常報(bào)告給用戶。
修復(fù)/增強(qiáng)
添加了新的配置文件參數(shù)“MAXCPUS”,用于設(shè)置用于測(cè)試的 CPU 邏輯內(nèi)核的最大數(shù)量。默認(rèn)情況下,此值為 256(專業(yè)版)和 16(免費(fèi)版)。此參數(shù)可設(shè)置為最大值 512。
添加了新的配置文件參數(shù)“AUTOPROMPTFAIL”,用于指定是否顯示測(cè)試結(jié)果并在測(cè)試失敗時(shí)要求用戶干預(yù),即使啟用了 AUTOMODE
添加了新的配置文件命名約定,允許根據(jù)內(nèi)存大小使用單獨(dú)的配置文件:<Memory-size-in-GB>GB-mt86.cfg
修復(fù)了內(nèi)存大小計(jì)算以使用舍入而不是截?cái)?/p>
如果檢測(cè)到更正的 ECC 錯(cuò)誤,則在測(cè)試完成時(shí)以黃色(而不是綠色)顯示 PASS 消息框
如果在 SPDMATCH=1 時(shí)未找到有效的 SPD.spd 文件,則顯示錯(cuò)誤消息
如果 SPDMATCH=1 時(shí)未檢測(cè)到 SPD 模塊,則顯示錯(cuò)誤消息
啟動(dòng)期間無(wú)法測(cè)量 CPU 時(shí)鐘速度時(shí)顯示錯(cuò)誤消息并退出 MemTest86
更新了 XML 消息以包含發(fā)送到 PXE 服務(wù)器/管理控制臺(tái)的 CPU 信息和 SMBIOS 信息
增加了對(duì) Intel Tiger Lake H 芯片組的 ECC 支持
增加了對(duì) Intel Rocket Lake 芯片組的 ECC 支持
增加了對(duì) Intel Alder Lake 芯片組的 ECC 支持
增加了對(duì) Intel Ice Lake-SP 芯片組的 ECC 支持
添加了對(duì)檢索 Intel Elkhart Lake 芯片組的 CPU 信息的支持
添加了對(duì)檢索 Intel Alder Lake 芯片組的 DIMM 溫度 (TSOD) 的支持
修復(fù)了由于禁用 CPU 周期計(jì)數(shù)器 (PMCCNTR) 而導(dǎo)致測(cè)量 ARM64 CPU 時(shí)鐘速度的問題
修復(fù)了 HTML 報(bào)告以在復(fù)制/粘貼時(shí)在文本中顯示錯(cuò)誤位圖
修復(fù)了 HTML 報(bào)告中的 Linux badram 條目與頁(yè)面大小對(duì)齊(4096 字節(jié))
修復(fù)了每行末尾出現(xiàn)空格時(shí) SPD.spd 文件的解析錯(cuò)誤
修復(fù)了顯示 RAM SPD DDR5 特定信息的問題
修復(fù)了對(duì)免費(fèi)版本中有限數(shù)量的命令行參數(shù)的支持
修復(fù)了 SPD 信息屏幕中文本溢出的錯(cuò)誤
修復(fù)了保存配置文件時(shí)未寫入 REPORTNUMWARN 配置文件參數(shù)
Site Edition 軟件包中包含 Serva PXE 服務(wù)器配置文件
更新了戴爾 Precision 7760 屏幕顯示問題的黑名單
標(biāo)簽: Memtest86 內(nèi)存檢測(cè)
RAMTester(電腦內(nèi)存測(cè)試工具) V1.0 綠色免費(fèi)版 320K | 簡(jiǎn)體中文 | 7.8
詳情RAMExpert(內(nèi)存檢測(cè)工具) V1.21.0.43 官方版 3.29M | 英文 | 10
詳情RAMExpert(內(nèi)存檢測(cè)工具) V1.10.2.25 漢化破解版 1.38M | 簡(jiǎn)體中文 | 10
詳情MemTest Pro內(nèi)存檢測(cè)工具 V5.1 漢化免費(fèi)版 17K | 簡(jiǎn)體中文 | 0
詳情Thaiphoon Burner(內(nèi)存顆粒檢測(cè)工具) V7.1.1.0 漢化破解版 830K | 簡(jiǎn)體中文 | 7.7
詳情Thaiphoon Burner(內(nèi)存顆粒檢測(cè)軟件) V15.0.0.0 綠色免費(fèi)版 4.19M | 簡(jiǎn)體中文 | 10
詳情關(guān)于本站|下載幫助|下載聲明|軟件發(fā)布|聯(lián)系我們
Copyright ? 2005-2025 www.wndwig.cn.All rights reserved.
浙ICP備2024132706號(hào)-1 浙公網(wǎng)安備33038102330474號(hào)